Industrie-
Mikroelektronik
Hervorhebung der Oberflächenqualität
von mikroelektronischen Leiterbahnen
und Kontakten auf einer Leiterplatte
Inspektion von mikroelektronischen
Leiterbahnen und Kontakten auf einer Leiterplatte
Bei der Verwendung von L.E.S.S.-Licht profitiert der Anwender
von einer gleichmäßigen Ausleuchtung mit weißem Licht (5400 K)
Bild einer mit einem 80-LED-Ringlicht
beleuchteten Leiterplatte
Das Bild in Abb. 1 wurde unter einem Stereomikroskop mit einem LED-Ring der Einstiegsklasse bei einem Arbeitsabstand von 100 mm aufgenommen. Kratzer, Staub und andere Oberflächendefekte sind nicht zu erkennen, da die verschiedenen Bereiche nicht gleichmäßig beleuchtet werden. Die Oberflächenbeschaffenheit der elektronischen Kontakte ist nicht zu erkennen und nur schwer zu prüfen.
Bild einer mit L.E.S.S. Darkfield (DF-5400)
beleuchteten Leiterplatte
Das Bild in Abb. 2 wurde unter einem Stereomikroskop mit einem L.E.S.S. Darkfield-Ringlicht (DF-5400) aufgenommen, das auf einen Arbeitsabstand von etwa 10 mm über der Leiterplatte eingestellt war. Die Gleichmäßigkeit und Richtungsabhängigkeit des Lichts, das auf die gesamte Leiterplatte trifft, bietet einen hervorragenden Kontrast über die zu untersuchende Oberfläche.
Beschichtungsfehler sind sofort sichtbar. Die Gleichmäßigkeit der Beleuchtung führt zu scharfen, gut definierten Bildern, die eine schnellere und genauere und zuverlässigere Inspektion der Probe ermöglichen.
Problematisch
Die Verwendung von Standard-LED-Beleuchtungen zur Inspektion von Leiterplatten ermöglicht keine optimale Inspektion der berflächenqualität und insbesondere der elektrischen Leiterbahnen und Kontakte.
Unsere Lösung
Bei der Verwendung von L.E.S.S.-Licht profitiert der Anwender von einer gleichmäßigen Ausleuchtung mit weißem Licht (5400°).
Das Licht der L.E.S.S.-Darkfield Beleuchtung trifft mit optimaler Intensität und ohne Wärmeabgabe von der Seite auf die Probe und bietet ein kontrastreiches Bild.
Problematisch
Die Verwendung von Standard-LED-Beleuchtungen zur Inspektion von Leiterplatten ermöglicht keine optimale Inspektion der berflächenqualität und insbesondere der elektrischen Leiterbahnen und Kontakte.
Unsere Lösung
Bei der Verwendung von L.E.S.S.-Licht profitiert der Anwender von einer gleichmäßigen Ausleuchtung mit weißem Licht (5400°).
Das Licht der L.E.S.S.-Darkfield Beleuchtung trifft mit optimaler Intensität und ohne Wärmeabgabe von der Seite auf die Probe und bietet ein kontrastreiches Bild.
